液晶空间光调制器用于光学测量的研究

摘要：

研究了利用液晶空间光调制器的相位调制特性进行光学测量的方法。测试美国BNS公司反射式256×256纯相位液晶空间光调制器,相位响应呈非线性。利用反插值法对非线性相位响应进行了校正,使非线性度缩小1/8,获得了该器件线性的相位响应曲线。利用液晶空间光调制器产生相息图,能够将PV值为0.78λ,均方根为0.13λ的不规则波面,调制成PV值为0.27λ,均方根为0.02λ的近似平面波。实验结果表明,液晶空间光调制器作为补偿器能够应用于任意光学表面的测量。

关键词： 光学表面测量 液晶空间光调制器 相位调制 相息图

作者: 张洪鑫 张健 吴丽莹

作者单位: 哈尔滨工业大学 超精密光电仪器工程研究所,黑龙江 哈尔滨 150080 哈尔滨理工大学 机械动力工程学院,黑龙江 哈尔滨 150080 哈尔滨工业大学 超精密光电仪器工程研究所,黑龙江 哈尔滨 150080

会议类型: 国内会议

会议名称: 二〇〇八年高精度几何量光电测量与校准技术研讨会

会议地点: 西安

会议语种:中文

页码: 39-42

在线出版日期: 2008-05-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）