大尺寸三维形貌测量中精确配准技术

摘要：

针对大尺寸三维形貌测量系统中全局控制点配准的特点,对适用的全局控制点精确配准技术进行了研究。为了满足大尺寸三维形貌测量中空间不同测站下全局控制点百分之百正确配准的要求,在基于对极几何约束的粗配准结果的基础上提出了采用同一测量区域的三幅图像进行二次配准。方法简单、快速,能够有效地提高全局控制点的正确匹配率。实验表明,能够将全局控制点的正确配准率从46.55％提高到98.28％。

关键词： 精确配准 全局控制点 大尺寸三维形貌 测量系统

作者: 郭磊 邾继贵 叶声华

作者单位: 天津大学 精密测试技术及仪器国家重点实验室,天津 300072

会议类型: 国内会议

会议名称: 二〇〇八年高精度几何量光电测量与校准技术研讨会

会议地点: 西安

会议语种:中文

页码: 24-27

在线出版日期: 2008-05-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）