高曲率微小零件表面缺陷及外形尺寸测量系统研究

摘要：

针对高曲率零件表面缺陷检测及外形尺寸测量的问题,设计实现了基于机器视觉的兼顾缺陷检测及外形尺寸测量两种功能的测量系统。在同一系统中,固定的光学系统放大倍数能满足检测表面微米级大小缺陷的要求,对外形尺寸测量要移动零件,拍摄多幅边缘图像,记录移动距离并计算零件两侧边缘在图像中的距离,得到最终的外形尺寸。解决了表面缺陷高精度检测和外形尺寸大范围测量的矛盾。实验证明:系统具有可靠、高效的特点。

关键词： 表面缺陷 外形尺寸 测量系统 图像处理 机器视觉

作者: 葛文谦 赵慧洁

作者单位: 北京航空航天大学 仪器科学与光电工程学院,北京 100083

会议类型: 国内会议

会议名称: 二〇〇八年高精度几何量光电测量与校准技术研讨会

会议地点: 西安

会议语种:中文

页码: 274-278

在线出版日期: 2008-05-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）