面向ATPG的ROM模型

摘要：

分析了结构化的测试生成对于只读存储器的建模需求,从提高测试生成的效率角度,建立含复杂数据的ROM简化模型,经过模型验证、测试生成及仿真实验表明,模型的使用在保证了故障覆盖率的前提下明显减少测试生成时间,更有助于生成有效的测试向量。

关键词： 测试生成 只读存储器 结构模型

作者: 鞠艳秋 成本茂 王红 杨士元

作者单位: 清华大学自动化系,北京 100084

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十二届全国容错计算学术会议

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 134-137

在线出版日期: 2007-07-15（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）