纳米器件容错方法
进入新世纪以来，微电子技术继续按摩尔定律高速发展。与此同时，纳米电子技术进入应用阶段，由于纳米器件的高缺陷密度本质，很多研究机构开始容错研究。概括地讲，由于依靠分子自组装制作纳米器件时的化学和物理机制还不十分清楚,目前纳米芯片的缺陷在制作功能完整的电路时,必须通过容错方法加以避免；集中了较多研究的方法是用缺陷地图来实现容错，依靠测试和诊断的方法确定缺陷的位置,可用在以类FP-GA器件和PLA器件为目标的设计中。
纳米器件 自组装 容错 缺陷地图
陈昕 江建慧
同济大学电子科学与技术系,上海 201804 同济大学计算机科学与技术系,上海 201804
国内会议
北京
中文
38-40
2007-07-15（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）