XRF光谱法测量铁矿石中的锡和锑

摘要：

本文研究了用熔融玻璃片法制样、XFR光谱法测量铁矿石中的锡、锑两元素的基本条件并用基准物质与试样混合配制成标准样品建立Sn、Sb的校准曲线,用于样品分析,测量结果准确可靠。

关键词： XFR光谱 锡 锑 铁矿石 熔融玻璃片法

作者: 杨觎 边立槐

作者单位: 天津钢铁有限公司技术中心,天津 300301

会议类型: 国内会议

会议名称: 全国冶金物理测试信息网X光衍射X光荧光技术委员会第十届学术研讨会

会议地点: 厦门

会议语种:中文

页码: 67-69

在线出版日期: 2007-11-16（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）