X-射线荧光直接压片法测定硅锰合金中的硅、锰、磷元素

摘要：

本文介绍一种用X-射线荧光光谱法测定硅锰合金中硅、锰、磷元素的方法,采用直接粉末压片法,用国家标样和自制内部标样绘制工作曲线,同时控制试样粒度在120日以下,分析结果与湿法分析结果相吻合。

关键词： 荧光光谱法 直接粉末压片法 硅锰合金

作者: 薛萍 刘春红 王雅

作者单位: 陕西龙门钢铁(集团)有限责任公司质量保证部 715405

会议类型: 国内会议

会议名称: 全国冶金物理测试信息网X光衍射X光荧光技术委员会第十届学术研讨会

会议地点: 厦门

会议语种:中文

页码: 51-58

在线出版日期: 2007-11-16（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）