会议专题

理学RIX系列扫描型X荧光光谱分析仪疑难故障排除过程的解析和思考

理学RIX系列扫描型X荧光光谱分析仪是一种具有高性能光谱系统、数据处理系统、较高灵敏度的X荧光分社亍仪器,广泛用于质量控制及研究开发的分析任务中。本文列举了理学RIX系列X荧光光谱分析仪的FPC脉冲高度分析不稳、X光管频繁跳电两个典型故障处理的过程及心得体会。对故障原因进行了浅析,对维修过程的思路进行了提炼与总结。

扫描犁X荧光光谱仪 脉冲高度分析 冷却水 质量控制 故障处理

王伟琦 张钶

宝钢分公司设备部,上海,201900

国内会议

全国冶金物理测试信息网X光衍射X光荧光技术委员会第十届学术研讨会

厦门

中文

15-17

2007-11-16(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)