基于蒙特卡罗模拟的统计过程控制图技术性能比较

摘要：

本文运用蒙特卡罗模拟方法,对适用于探查微小范围均值漂移过程的带解释规则的休哈特(ShewhartX)控制图、指数加权移动平均控制图(EWMA)和累积和(CuSum)控制图,进行了比较分析,得出结论,CuSum控制图有最好的表现,接着是EWMA和带解释规则的ShewhartX控制图。

关键词： 统计过程 控制图 蒙特卡罗 模拟方法 均值漂移 技术性能

作者: 邹庆忠 李金林

作者单位: 北京理工大学管理与经济学院,北京,100081

会议类型: 国内会议

会议名称: 第五届中国管理科学与工程论坛

会议地点: 广州

会议语种:中文

页码: 358-361

在线出版日期: 2007-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）