内嵌金属富勒烯Y@C82的同步辐射XAFS研究

摘要：

内嵌金属富勒烯以其独特的电子结构与几何结构预示其在电子、光电子以及医疗领域有重大的应用前景而受到研究者格外的关注。本文测定和拟合在低温(25K)和室温(300K)下Y@C82的XAFS谱,可以得到Y@C82中的Y的最近邻和次近邻配位壳层的结构参数,还可以得知Y-C两个壳层的配位距离基本没有随温度变化,Y@C82的两个壳层的原子分布即使在低温下也存在比较大的无序。

关键词： 内嵌金属富勒烯 同步辐射 XAFS

作者: 刘蕾 储旺盛 钟俊 高斌 吴自玉 王春儒

作者单位: 中国科学院高能物理研究所,北京 100049 中国科学院化学研究所,北京 100080

会议类型: 国内会议

会议名称: 第八届全国新型炭材料学术研讨会

会议地点: 桂林

会议语种:中文

页码: 513-515

在线出版日期: 2007-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）