扫描探针DFM模式下的炭黑表面微观结构研究
本文用扫描探针显微镜(SPM)测定了多种炭黑石墨化前后的表面微观结构,测量炭黑粒径以及表面粗糙度等微观参数,并与石墨化前的数据进行比较,结果表明炭黑石墨化后其表面形貌变化不大,但粗糙度却发生了改变,表面凹凸结构降低。并用图像处理软件进行图像分析得到表面粗糙度等数值,得到了一个新的炭黑表征参数-平均表面面粗糙度。同时测定了炭黑比表面积等常规物化性质,结果表明粗糙度值与炭黑常规补强参数间存在着一定的联系,粗糙度值越大,其常规补强参数值亦高。
炭黑 微观结构 扫描探针显微镜 橡胶补强
张敬雨 陈建 金永中
四川理工学院 材料与化学工程系,四川 自贡 643000
国内会议
桂林
中文
42-48
2007-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）