可卷L2-偏差的下界及均匀设计与中点超拉丁方抽样的关系

摘要：

在试验设计中常用可卷L<,2>-偏差来度量设计的均匀性。本文给出了混合水平的可卷L<,2>-偏差的下界并得到了中点拉丁方抽样的可卷L<,2>-偏差的均值与方差。根据该结果比较可卷L<,2>-偏差下界与中点超拉丁方抽样的均值,得到中点拉丁方抽样与均匀设计的关系。同时,讨论了简单随机抽样与U类设计之间的关系。

关键词： 度量理论 度量设计 均匀性 均匀设计 抽样均值

作者: 周永道 宁建辉

作者单位: 四川大学数学学院,成都 610064;北京师范大学-香港浸会大学联合国际学院理工科技学部,珠海 519085 华中师范大学数学与统计学院,武汉,430079;北京师范大学-香港浸会大学联合国际学院理工科技学部,珠海 519085

会议类型: 国内会议

会议名称: 2007年全国均匀试验设计学术交流会

会议地点: 北京

会议语种:中文

页码: 72-81

在线出版日期: 2007-08-18（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）