抗EMI磁芯自然断面的EBSD分析

摘要：

采用EBSD技术对抗EMI磁芯自然断面进行晶粒取向分析。通过对菊池花样的分析,得出该抗EMI磁芯晶体取向分布基本一致。

关键词： 背散射衍射技术 取向分析 菊池花样

作者: 孟兵 邵李唤 郑梁 秦会斌

作者单位: 济南大学 济南 250022 杭州电子科技大学 杭州 310018

会议类型: 国内会议

会议名称: 浙江省第三届分析测试学术报告会

会议地点: 杭州

会议语种:中文

页码: 438-441

在线出版日期: 2007-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）