CMOS集成电路电流测试方法综述

摘要：

本文介绍了CMOS集成电路静态电流(ODDQ)和瞬态电流(IDDT)测试的原理,综述了IDDQ和IDDT测试方法,探讨了各种方法的特点和不足,分析了所而临的一些问题,并对IDDQ和IDDT测试的研究进行了展望。

关键词： CMOS集成电路 电流测试 静态电流 瞬态电流 测试方法

作者: 朱彦卿 阳辉 方葛丰 尹新 何怡刚

作者单位: 湖南大学电气与信息工程学院 长沙 410082

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国第二十届电路与系统学术年会暨2007年港澳内地电子信息学术研讨会

会议地点: 深圳

会议语种:中文

页码: 466-470

在线出版日期: 2007-06-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）