EBSD单个取向数据的再利用
在应用EBSD单个取向测定及取向成像技术的初期,往往直接用软件将所有取向数据一次性地用于制作极图、取向成像图、ODF等。随着对材料相关过程认识的深入,通过对部分取向数据的一定运算以及相关的、并不太复杂的理论计算往往可挖掘新的信息。本文通过滑移、孪生时的取向变化的运算滑移和孪生过程的Schmid因子计算、应变张量的计算分析了FCC和HCP结构金属的形变过程及取向的依赖性。
电子背散射衍技术 取向成像技术 孪生过程 晶粒取向
杨平
北京科技大学材料学院 100083
国内会议
内蒙古包头
中文
41-47
2007-08-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）