电子背散射衍射技术在晶界工程中的应用(邀请报告)

摘要：

在简要介绍晶界工程(GBE)的起源、分类和定义的基础上,归纳了电子背散射衍(EBSD)技术在GBE研究领域的应用。重点讨论了基于EBSD技术的晶界特征分布(GBCD)测定取向差法、低指数晶界面测定单一截面迹线法和晶界面特征分布(GBPCD)测定五参数法。最后,就晶界工程相关基础研究对EBSD技术提出的新要求做了展望。

关键词： 晶界工程 电子背散射衍技术 晶界面测定

作者: 王卫国

作者单位: 山东理工大学机械工程学院金属材料系,淄博 255049

会议类型: 国内会议

会议名称: 第二届全国电子背散射衍射技术及其应用会议

会议地点: 内蒙古包头

会议语种:中文

页码: 27-33

在线出版日期: 2007-08-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）