基于激光图像分析检测苹果表面损伤和内部腐烂的研究

摘要：

利用波长650 nm，功率25 mW的半导体激光及计算机视觉技术，初步探讨了利用激光图像分析技术对苹果(嘎拉)采后表面损伤和内部腐烂检测的方法和装置。利用一颗钢球从20cm的高度垂直自由下落至苹果表面，来模拟苹果在采收和运输过程中受到的损伤；利用微量注射器从苹果底部将一定孢子浓度的青霉菌液注入果心部位，来模拟苹果内部的腐烂。激光图像分析检测表明，受损伤后苹果图像像素数在36小时达到最高值，且在1-84小时内与对照差异显著；接种后的苹果随着内部腐烂的发生，在第4天图像像素数达到最高值，而后开始下降，第7天与对照差异显著。可以用此对苹果表面的损伤和内部腐烂进行检测，并为进一步的实际应用提供理论基础。

关键词： 苹果 半导体激光 图像分析 激光检测

作者: 陈育彦 屠康 柴丽月 潘磊庆

作者单位: 南京农业大学食品科技学院,江苏,南京,210095

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国农业工程学会2007年学术年会

会议地点: 大庆

会议语种:中文

在线出版日期: 2007-08-14（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）