加速寿命试验的失效检测时间估计方法研究

摘要：

寿命服从Weibull分布的产品在加速寿命试验中进行检测间隔内失效时间的估计,分析了传统方法对失效时间估计的偏差值及其本质原因,研究了失效时间估计的改进方法和计算的迭代算法,并提供了具体的计算流程图。实例计算表明迭代算法比传统方法更为准确。

关键词： 电子产品 加速寿命试验 失效时间估计 迭代算法 检测区间

作者: 易当祥 刘春和 彭道勇 齐俊臣 朱三可

作者单位: 清河大楼子八 北京 100085

会议类型: 国内会议

会议名称: 第三届电子信息系统质量与可靠性学术研讨会

会议地点: 嘉峪关

会议语种:中文

页码: 117-120

在线出版日期: 2007-06-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）