电子设备可靠性设计方法综述

摘要：

本文对电子设备可靠性设计方法从预计、元器件的选择与控制、降额设计、热设计、冗余设计、容差设计、电磁兼容设计和潜通路设计方面进行了概述,可为电子设备可靠性设计提供一些指导性意见.

关键词： 电子设备 可靠性设计 设计方法

作者: 彭道勇 刘春和 赵韶平 朱三可

作者单位: 第二炮兵装备研究院三所六室 北京清河大楼子八 100085

会议类型: 国内会议

会议名称: 第三届电子信息系统质量与可靠性学术研讨会

会议地点: 嘉峪关

会议语种:中文

页码: 41-44

在线出版日期: 2007-06-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）