集成电路电故障隔离技术研究

摘要：

集成电路失效后要进行故障隔离定位。功能复杂和线条细、布线层数多的集成电路以及倒装焊的电路要进行故障定位非常困难,充分应用电测试来进行故障定位是最可行的故障定位方法,要实现有效的电隔离定位在设计时就要考虑好可测性设计、可失效分析设计,要了解测试过程以及基本的测试向量生成方法,通过对测试结果的分析以及使用故障诊断程序来进行故障隔离定位。本文对电故障隔离定位涉及到的主要技术进行了较全面的总结。

关键词： 集成电路 故障隔离 电失效分析 可测性设计 电隔离定位

作者: 李兴鸿 林建京 罗飞茵 马明朗 梁云

作者单位: 北京微电子技术研究所 北京9243信箱 100076

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十二届全国可靠性物理学术讨论会

会议地点: 四川都江堰

会议语种:中文

页码: 87-91

在线出版日期: 2007-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）