硅脉冲微波功率器件增益退化机理研究

摘要：

本文介绍了硅双极型微波功率晶体管的发展历史和应用现状。针对硅脉冲微波功率器件增益退化的失效模式,通过对硅脉冲微波功率器件直流参数的统计分析,初步得出了其失效机理。

关键词： 微波功率晶体管 可靠性 功率增益 失效机理 增益退化 硅脉冲器件

作者: 廖超 来萍 李斌 崔晓英 路香香

作者单位: 华南理工大学物理科学与技术学院 广东广州 510640;电子元器件可靠性物理及其应用技术国家级重点实验室 广东广州 510610 电子元器件可靠性物理及其应用技术国家级重点实验室 广东广州 510610 华南理工大学物理科学与技术学院 广东广州 510640

会议类型: 国内会议

会议名称: 第十二届全国可靠性物理学术讨论会

会议地点: 四川都江堰

会议语种:中文

页码: 76-80

在线出版日期: 2007-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）