微通道板表面涂层的TOF-SIMS分析

摘要：

微通道板(Microchannel plate，MCP)是于20世纪60年代末开发成功的一种简单紧凑的大面阵微通道电子倍增器件，是对二维空问分布的电子流进行倍增的元件。其对电子、离子、加速中心粒子、短波光量子十分敏感，具有低功耗、自饱和、高速探测和低噪声等优点。在军事、国防、空间技术、医用X射线成像及材料检验分析仪器等领域中的重要作用倍受人们重视。静态飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)凭借着其高灵敏度、高分辨率和大质量范围以及全元素分析等显著优势，是进行微尺度观察和表面涂层元素分析的理想工具。本文给出运用TOF-SIMS分析微通道板表面涂层的实例。

关键词： 微通道板 表面涂层 TOF-SIMS分析 电子倍增器件

作者: 罗春平 梁汉东 孙东旭

作者单位: 煤炭资源与安全开采国家重点实验室，北京100083 煤炭资源与安全开采国家重点实验室，北京100083 中国矿业大学(北京)表界面化学研究所，北京100083 中国矿业大学(北京)表界面化学研究所，北京100083

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国质谱学会无机质谱、同位素质谱、质谱仪器和教育学专业委员会学术交流会

会议地点: 宜昌

会议语种:中文

页码: 68-70

在线出版日期: 2007-10-09（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）