西门子的SimoDrive功率模块失效分析

摘要：

本文通过对已损坏的西门子IGBT研究,详细的分析了西门子IGBT损坏的原因,有IGBT制造过程中工艺问题,也有外围驱动设计不严密的问题。

关键词： 西门子IGBT 功率模块失效 IGBT损坏 外围驱动设计 失效分析

作者: 夏建明 李本忍

作者单位: 中科院沈阳计算技术研究所数控工程部 110004

会议类型: 国内会议

会议名称: 2007第七届全国数控装备使用、维修与改造经验交流会

会议地点: 广州

会议语种:中文

页码: 207-210

在线出版日期: 2007-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）