光子相关光谱法纳米颗粒测定的准确性问题
基于光子相关光谱法测粒原理,系统研究了影响该法测定纳米颗粒物有效直径和分散度的准确性的因素,包括如何配置实验系统及实验参数、信号获取中的干扰、使用的分散介质含杂质颗粒物的干扰以及数据处理中的基线选择等对测量结果的影响。本文通过多角度测量分析了测量装置的界面反射对cps值的影响,分析了噪声的来源和噪声对测量结果的影响。通过对纳米金及二氧化硅颗粒的测定,验证了信号接收角度和分散溶液介质的性质对测量结果的影响,指出选择不同基线的方法和采用噪声剔除技术,可减少或消除噪声的影响。
纳米颗粒测量 光子相关光谱法 噪声干扰 分散介质 基线方法
陈超雄 杨冠玲 韩鹏 岳成凤 黄洁彬 周述苍 刘桂强
华南师范大学物理与电信工程学院,广东广州 510006
国内会议
上海
中文
219-226
2007-10-23（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）