粒度测试技术的最新发展
颗粒测量越来越为大家所关注,发展很快。如在1980年代,我国的颗粒测量主要还是采用离心沉降等方法,80年代末基于光衍射原理的激光颗粒测量仪以众多的优点开始逐渐取代基于离心沉降法等的粒度仪,90年代开始随激光粒度仪测量下限的逐渐降低,激光粒度仪逐步采用米散射理论,并在结构上有许多改进和创新,不仅降低了仪器的测量下限,还提高了仪器在小颗粒测量时的精度。目前,激光粒度仪的测量上下限已可从约20纳米到6000微米的范围,已基本上取代了离心沉降粒度仪等用于各行各业。
粒度测试 颗粒测量 光衍射原理 激光颗粒测量仪 激光粒度仪 米散射
蔡小舒 苏明旭 沈建琪 薛明华 李俊峰 欧阳新 董黎丽 唐荣山
上海理工大学颗粒与两相流测量技术研究所,上海 200093 上海理工大学颗粒与两相流测量技术研究所,上海200093
国内会议
上海
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141-160
2007-10-23（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）