金刚石薄膜探测器时间响应性能研究

摘要：

研制出可以用于脉冲辐射探测的CVD金刚石薄膜探测器,通过理论计算和实验研究,讨论了金刚石探测器时间响应的影响因素。探测器的面积、厚度是影响其时间响应的主要因素,金刚石材料中的杂质和缺陷会使其时间响应变慢。选用高质量的金刚石薄膜可以制成适用于纳秒级脉冲辐射探测的半导体探测器。

关键词： 半导体探测器 金刚石薄膜 时间响应 脉冲辐射探测

作者: 王兰 欧阳晓平 范如玉

作者单位: 清华大学工程物理系 北京 100084 西北核技术研究所 西安 710024

会议类型: 国内会议

会议名称: 全国第六届核仪器及其应用学术会议

会议地点: 广西桂林

会议语种:中文

页码: 78-80

在线出版日期: 2007-11-05（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）