后处理设备调试中位移传感器的干扰源分析及解决措施

摘要：

本文针对后处理设备调试中位移传感器发生的干扰现象,根据控制系统的具体情况,分析了可能存在的干扰源,并采取了相应措施,解决了干扰问题。

关键词： 位移传感器 控制系统 干扰源

作者: 孙良勤 冯梅 鲍延年

作者单位: 中国工程物理研究院化工材料研究所

会议类型: 国内会议

会议名称: 四川省电子学会传感技术第十届学术年会

会议地点: 厦门

会议语种:中文

页码: 30-32

在线出版日期: 2007-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）