SP-3160IV 超大规模集成电路测试系统校准方法及测量不确定度分析与评定

摘要：

SP-3160IV超大规模集成电路测试系统可对各类随机逻辑数字集成电路和各类通用存储器IC、各种通用线性IC及数字/模拟混合IC进行直流参数、动态功能和交流参数的测试。本文根据常用测量不确定度评定方法，规定了SP-3160IV超大规模集成电路测试系统的校准条件、校准项目、校准方法，校准结果的处理及校准周期。并对其测量不确定度进行分析和评定。本方法适用于SP-3160IV超大规模集成电路测试系统的校准。

关键词： 超大规模集成电路 测试系统 校准方法 测量不确定度

作者: 朱小锋 余彦胤 杨有莉

作者单位: 中国工程物理研究院电子工程研究所，四川 绵阳，621900

会议类型: 国内会议

会议名称: 四川省电子学会电子测量与仪器专业委员会第十三届学术年会

会议地点: 四川康定

会议语种:中文

页码: 125-130

在线出版日期: 2007-09-10（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）