DAFS研究NiFe／Cu多层膜结构

摘要：

该文首次利用异常衍射精细结构谱（DAFS）分析技术对多层膜中的NiFe和Cu的精细结构进行了分析。从DAFS谱中，研究人员提取出Ni和Cu的精细结构谱，从而可以单独研究多层膜中NiFe和Cu的精细结构。与荧光EXAFS谱的比较表明，两种方法得到的谱线完全一致。该技术为研究超薄多层膜的精细结构提供一种强有力的工具。

关键词： NiFe Cu 多层膜 结构 X射线异常精细结构谱

作者: 罗光明 姜宏伟 徐明 吴忠华 蒋海英

作者单位: 院物理所及凝聚态物理中心(北京) 院高能物理研究所国家同步辐射实验室(北京)

会议类型: 国内会议

会议名称: 第七届全国X射线衍射学术会议

会议地点: 武汉

会议语种:中文

页码: 81～82

在线出版日期: 1998-11-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）