采用磁控溅射法制备多晶硅薄膜的研究
利用磁控溅射法在普通玻璃衬底上淀积a-Si/Al双层复合薄膜,然后在氩气保护中退火而制备多晶硅薄膜;利用XRD、SEM对薄膜进行测试分析。 实验结果表明,在铝的诱导下,a-Si薄膜在450℃退火30分钟即开始晶化,随着退火温度的升高和退火时间的增加,晶化程度加强。
多晶硅薄膜 金属诱导法 磁控溅射法 低温晶化 退火
王翀 许家雄 姚若河
华南理工大学物理科学与技术学院 广州 510640
国内会议
07中国(华南地区)真空与光电技术论坛暨广东省真空学会学术年会
广东东莞
中文
34-36
2007-12-09(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)