CY型印制电路连接器可靠性增长研究

摘要：

该文以ＣＹ４型印制电路连接器为代表，对ＣＹ型印制电路连接器的失效模式和失效机理进行了系统的分析和研究，并通过一系列工艺改进及对比试验，在实践中对产品进行试验￣分析￣改进，系统的进行了ＣＹ型印制电路连接器可靠性增长的研究，从而获得了提高印制电路连接器可靠性水平的一些有效途径。使产品的接触电阻和耐环境性达到了国军标的要求。

关键词： 电路连接器 印制电路连接器 可靠性增长

作者: 程时新 周付斌 张菊华 何斌

作者单位: 七九六厂 七九厂

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国电子学会电子元件分会可靠性与质量管理专委会军用电子元件“八五”可靠性研究学术会议

会议地点: 成都

会议语种:中文

页码: 149～158

在线出版日期: 1998-12-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）