通用SoC芯片中存储器的一种整体测试方法

摘要：

随着集成电路的规模和密度越来越大,SoC芯片的结构也越来越复杂,嵌入在SoC芯片中的存储器容量和字长各不相同,因此SoC中存储器的测试显得尤为重要。基于面向自测试March C算法的基础上,本为提出了对SoC中嵌入式存储器的一种并行测试方案。试验结果表明,在不影响故障覆盖率的基础上,本方案具有节省硬件开销,提高测试效率等优点。

关键词： SoC芯片 并行测试 存储器测试 内置自测试 March C算法

作者: 谈恩民 王彦婷

作者单位: 桂林电子科技大学 电子工程学院 桂林 541004

会议类型: 国内会议

会议名称: 2007年首届仪表、自动化与先进集成技术大会

会议地点: 重庆·云南丽江

会议语种:中文

页码: 179-182

在线出版日期: 2007-12-07（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）