彩色条纹组合编码三维快速测量
为了实现快速三维形貌测量,提出了一种基于彩色条纹组合编码方法的光学三维测量系统。仅需一副图像即可得到物体的三维测量结果,可以适应三维快速测量的需要。采用透视投影模型,无需准确调整结构光投射器和摄像机的安放位置,具有广泛的适应性。另外提出了一种有效的条纹细化方法基本克服了杂散点对细化结果的影响。本文阐述了该测量系统的测量原理，提出了编解码方法,给出测量结果。实验证明,该方法计算时间少、精度较高,具有强的抗干扰能力。
三维形貌测量 彩色条纹组合编码 透视投影模型 光平面 抗干扰 条纹细化
傅媛媛 刘国忠
北京机械工业学院 北京 100085
国内会议
重庆·云南丽江
中文
5-8
2007-12-07（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）