一种改进型IP核测试环单元设计

摘要：

在详细分析IEEE P1500标准中给出的典型测试环单元优缺点以及安全控制测试环单元优缺点的基础上,给出一种改进型的测试环单元。该单元不但可以确保整个测试环单元都是可测的,而且有效解决典型结构中扫描移位过程中不安全状态,并且增加的硬件面积有限。

关键词： IP核测试 测试环单元 扫描移位过程 安全状态

作者: 王艳梅 雷加

作者单位: 桂林电子科技大学电子工程学院 桂林 541005

会议类型: 国内会议

会议名称: 2007年首届仪表、自动化与先进集成技术大会

会议地点: 重庆·云南丽江

会议语种:中文

页码: 187-190

在线出版日期: 2007-12-07（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）