基于遗传算法的SoC测试测试结构优化
在测试访问机制(TAM)宽度有限的条件下,如何减少系统芯片(ScC)的测试时间,是SoC测试中的重要问题。运用了一种最佳拟合递减(Best Fit Decreasing,BFD)算法优化Wrapper并结合SoC测试结构的特点,建立遗传算法的数学模型,通过对群体的观测,决定IP核在测试访问机制上的分配及当前群体中的最佳个体,实现了基于遗传算法的SoC测试测试结构的优化。针对国际标准系统芯片(SoC)验证表明,与其他算法相比,该算法能够较好地减少SoC的测试时间。
系统芯片测试 测试结构 拟合递减算法
颜学龙 李明太 李志娟
桂林电子科技大学电子工程学院 桂林 541004
国内会议
重庆·云南丽江
中文
41-44
2007-12-07（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）