模数混合信号的可测性设计方法研究

摘要：

随着集成电路的迅速发展,特别是片上系统SOC的出现,混合信号电路的集成度越来越高,其测试变得越来越复杂。传统的测试方法已经很难对模数混合信号进行有效测试,测试问题成了长期以来制约其发展的瓶颈,因此研究混合信号电路的测试测试方法具有重要的理论价值和实际意义,可测性设计(DFT)被认为是解决此问题有效的方法,本文主要讨论了可测性设计的边界扫描和内建自测(BIST)技术。

关键词： 模数混合信号电路 可测性设计 边界扫描测试 IEEE1149.4标准 内建自测试

作者: 雷加 刘伟

作者单位: 桂林电子科技大学 桂林 541004

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国仪器仪表学会第九届青年学术会议

会议地点: 合肥

会议语种:中文

页码: 926-929

在线出版日期: 2007-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）