Y型波导调制器高温存储特性研究

摘要：

研究了Y型波导调制器的高温存储特性。经过120h的高温存储实验和后期的数据整理及分析,结果显示插入损耗变化范围在0.15dB至0.77dB,有随存储时间增加而增大的趋势,拟合增长率为0.00376dB/h。分束比在小于0.5％的范围内变化,受到的影响较小,具有较好的温度特性。

关键词： 光纤陀螺 Y型光波导调制器 高温存储 插入损耗

作者: 王羽 张小玲 吕长志

作者单位: 北京工业大学电控学院可靠性物理实验室 北京 100021

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国仪器仪表学会第九届青年学术会议

会议地点: 合肥

会议语种:中文

页码: 807-810

在线出版日期: 2007-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）