带弧线扫描的负折射率探测系统设计
本文介绍了带弧线扫描的材料负折射率三维探测系统的设计。该系统通过数据采集卡实现计算机对电移台和旋转台的扫描控制,在以光子晶体样品为圆心的圆弧上,对折射光的空间光强分布进行实时采集,根据扫描记录计算出折射角的大小,从而判断是否产生材料负折射率现象；与直线扫描相比,沿圆周的弧线扫描消除了探测器距离样品距离不同造成的光强衰减差别,折射角的计算也更加简便,因而更加可靠和准确。
数据采集 弧线扫描 负折射率 探测系统
吕玮阁 陈家壁 庄松林
上海理工大学 上海 200093 上海理工大学 上海200093
国内会议
合肥
中文
291-293
2007-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）