低功耗扫描测试的分析与建模

摘要：

基于扫描的测试是最常用的SoC测试技术,如何降低扫描测试功耗是SoC测试领域面临的主要挑战之一。这篇文章首先分析了扫描测试过程中功耗产生的原因,然后对扫描触发器的跳变对其内部组合逻辑产生的影响进行了建模,并根据这个数学模型重新调整了扫描链中扫描触发器的排列顺序,从而降低了扫描测试过程中的峰值功耗和总功耗。

关键词： 低功耗扫描测试 扫描触发器 峰值功耗 测试技术

作者: 闫永志 王宏 杨志家 杨松

作者单位: 中国科学院沈阳自动化研究所 辽宁沈阳 110016 中国科学院研究生院 北京 100039 中国科学院沈阳自动化研究所 辽宁沈阳 110016

会议类型: 国内会议

会议名称: 中国仪器仪表学会第九届青年学术会议

会议地点: 合肥

会议语种:中文

页码: 50-53

在线出版日期: 2007-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）