电子设备电磁脉冲失效概率分布试验方法

摘要：

本文针对电子设备电磁脉冲评估提出了在不同耦合时间通过步进调节耦合强度获取设备失效概率,从而获得在整个工作过程失效概率分布的方法.提出了在电磁脉冲模拟器、TEM小室及实验室注入获取失效概率的试验方法构想。

关键词： 电子设备 电磁脉冲 失效概率

作者: 邓建红 李小伟 周开明

作者单位: 中国工程物理研究院电子工程研究所,绵阳919信箱522分箱,621900

会议类型: 国内会议

会议名称: 第九届全国抗辐射电子学与电磁脉冲学术年会

会议地点: 重庆

会议语种:中文

页码: 405-408

在线出版日期: 2007-06-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）