PDSOI 8位MCU瞬态试验检测程序设计
为配合中国科学院微电子研究所的PDSOI 8位MCU J80C51RH瞬态辐照实验,开发了一套检测内部数据存储器(RAM)的汇编程序和记录分析结果的Labview程序。通过这套程序可以对MCU内部RAM初始化,循环读取RAM中的内容并与初始值进行比较,自动找出翻转单元。记录、分析错误地址与信息.这两套测试软件在西北核技术研究所强光一号的瞬态实验上进行了验证,该芯片工作稳定。同时,也证明了中科院微电子研究所MCU-J80C51RH能够在剂量率为1×1O<”11>rad(Si)/s的瞬态辐照环境下工作.
瞬态辐照 SOI MCU 数据采集 瞬态实验
赵发展 郭天雷 蔡小五 刘刚 海潮和 杨善潮 李瑞宾 林东生
中国科学院微电子研究所,北京 100029 西北核技术研究所,西安 710024
国内会议
重庆
中文
353-357
2007-06-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）