电路仿真在单片机系统抗闭锁加固技术中的应用

摘要：

本文介绍了ORCAD/PSPICE仿真软件在80C196KC20单片机系统LRC抗闭锁加固技术中的应用.该仿真软件在此项目中的应用表明:在抗辐射加固研究中引入仿真技术,不仅可以节约时间,降低成本,还提高我们的研究水平.

关键词： 电路仿真 ORCAD PSPICE 辐射效应 抗闭锁加固

作者: 赵刚 许献国 赵洪超

作者单位: 中国工程物理研究院电子工程研究所,四川绵阳,621900

会议类型: 国内会议

会议名称: 第九届全国抗辐射电子学与电磁脉冲学术年会

会议地点: 重庆

会议语种:中文

页码: 306-308

在线出版日期: 2007-06-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）