VLSI辐射效应试验测试问题

摘要：

针对近年来,系统进行的辐射效应试验情况,探讨试验中如何选择试验敏感参数问题,并提出相应的改进措施。

关键词： 集成电路测试 敏感参数 辐射效应

作者: 崔帅 杨善潮 李斌 牛振红 李瑞宾 郭晓强

作者单位: 北京航天长征飞行器研究所,北京9200信箱76分箱6号,10076 西北核技术研究所,西安市69信箱10分箱,710024 西北核技术研究所,西安市69信箱10分,710024

会议类型: 国内会议

会议名称: 第九届全国抗辐射电子学与电磁脉冲学术年会

会议地点: 重庆

会议语种:中文

页码: 297-300

在线出版日期: 2007-06-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）