卫星用典型器件在空间辐射环境中屏蔽技术研究

摘要：

对28C256 E<”2>PROM和A1280 FPGA器件在1.5MeV电子束辐照效应进行了试验研究.通过对试验器件在不同厚度的材料屏蔽下1.5MeV电子束辐照的试验分析,得到了一些有价值的结果,实践证明屏蔽材料对抑制空间辐射环境中电子引起MOS器件电离辐射效应是有效的。

关键词： 电子束 辐照效应 屏蔽材料 空间辐射环境 电子器件

作者: 吾勤之 王晨 蔡楠 卫新国 陈晓强 宋卫

作者单位: 航天科技集团公司八院第八〇八研究所 航天科技集团公司八院第八〇八/究所 航天科技集团公司八院第八〇九研究所

会议类型: 国内会议

会议名称: 第九届全国抗辐射电子学与电磁脉冲学术年会

会议地点: 重庆

会议语种:中文

页码: 292-296

在线出版日期: 2007-06-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）