星用电子元器件辐射可靠性研究

摘要：

抗辐射加固设计是可靠性设计的重要内容之一,本文首先提出了抗辐射加固总体优化设计的技术途径,然后引入”辐射可靠性”的概念,阐述了辐射可靠性与器件抗辐射性能之间的量化关系,在此基础上提出了器件抗辐射性能指标分配方法,为设计师的抗辐射加固优化设计工作提供了初步的技术依据。

关键词： 辐射可靠性 总剂量效应 单粒子效应

作者: 杨钧

作者单位: 上海卫星工程研究所,上海市闵行区华宁路251号,200240

会议类型: 国内会议

会议名称: 第九届全国抗辐射电子学与电磁脉冲学术年会

会议地点: 重庆

会议语种:中文

页码: 230-233

在线出版日期: 2007-06-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）