Intel 80386EX单粒子效应激光模拟实验研究

摘要：

本文利用实验室从俄罗斯引进的激光模拟单粒子效应试验系统,初步进行了大规模集成电路Intel386EX单片机单粒子效应的地面模拟试验研究,验证了Intel386EX单片机在激光辐照下存在单粒子效应。本文中详细地介绍Intel386EX芯片单粒子效应激光模拟的实验方法,实验系统的软硬件组成,实验过程和实验结果及实验结果的分析,并给出了地面模拟Intel386EX CPU的单粒子翻转阈值。

关键词： Intel386EX 单粒子效应 脉冲激光 单粒子翻转 单粒子锁定

作者: 薛玉雄 曹洲 杨世宇 刘淑芬 褚楠 曹海宁 尚智

作者单位: 中国航天科技集团公司五院五一〇研究所,甘肃省兰州市94号信箱 730000 中国航天科技集团公司五院五一〇研究所,甘肃省兰州市94号信箱730000 中国航天科技集团公司五院五〇二研究所,北京 100080

会议类型: 国内会议

会议名称: 第九届全国抗辐射电子学与电磁脉冲学术年会

会议地点: 重庆

会议语种:中文

页码: 198-203

在线出版日期: 2007-06-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）