星敏感器用CCD抗辐射加固技术研究

摘要：

本文针对我国目前星敏感器的发展状况,对星敏感器用CCD器件的抗辐射特性进行研究,利用Co<”60>γ射线对SONY公司ICX285AL芯片进行辐照试验,完成星敏感器用CCD器件的初步摸底试验,为星敏感器加固奠定基础。

关键词： 星敏感器 CCD ICX285AL 抗辐射试验 电荷耦合器

作者: 梁珣

作者单位: 上海航天控制工程研究所,上海市徐汇区田林路120号,邮编 200233

会议类型: 国内会议

会议名称: 第九届全国抗辐射电子学与电磁脉冲学术年会

会议地点: 重庆

会议语种:中文

页码: 167-169

在线出版日期: 2007-06-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）