基于IEEE标准的高速高精度模拟数字变换器通用测试系统的设计
随着当代对高速高精度模拟数字变换器(Analog to DigitalConverter,简称ADC)的需求的增大,如何对这些高品质的ADC进行测试并给出可靠的结果,就成为一个越来越重要的问题。此ADC测试系统基于IEEE Std.1241-2000标准,通过计算机分析ADC的输出码而给出可靠的结果。同时,此系统着眼于”通用性”,可以测试各种性能段和类型的ADC,在测试高速高精度的ADC(最大16bit,采样率最高达到166Msps)时更有出色的性能。文中将对ADC测试的相关方面进行介绍,并结合对商用ADC芯片实际进行测试的结果展示系统性能。
模拟数字变换器 通用测试系统 系统性能 输出码
赵雷 李玉生 刘小桦 安琪
安徽省物理电子学重点实验室 中国科学技术大学近代物理系 合肥 230026
国内会议
深圳
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91-95
2007-11-04（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）