单片机控制不良导体导热系数实验仪的研制

摘要：

研制以89C55单片机为核心的不良导体导热系数实验仪,应用MAX5576芯片对热电偶温差电动势实现冷端补偿和AD转换,通过可控硅调相方式控制加热温度,LCD屏显示各项实验参数和曲线.本文介绍了系统硬件和软件的设计.

关键词： 热电偶 温度测量 功率控制 不良导体 导热系数 实验参数 计算机控制 大学物理 实验教学

作者: 张进宏 刘依真

作者单位: 北京交通大学物理系,北京 100044

会议类型: 国内会议

会议名称: 2007年全国高等学校物理基础课程教育学术研讨会

会议地点: 杭州

会议语种:中文

页码: 411-413

在线出版日期: 2007-08-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）