用于测量强流电子束脉冲的B-dot参数设计

摘要：

本文描述了B-dot测量脉冲电子束流强度和束质心位置的原理,分析了B-dot工作于自积分和微分模式的条件,并根据所测量的电子束流信号特点,确定了B-dot参数,将设计制作的探测器在电子束流模拟装置上进行测量实验,获得准确的测量信号。

关键词： 电子束流强度 B-dot参数 探测器 模拟装置 测量信号 微分模式 自积分

作者: 李勤 王永伟 王莉萍

作者单位: 中国工程物理研究院流体物理研究所,四川绵阳,621900

会议类型: 国内会议

会议名称: 四川省电子学会高能电子学专业委员会第五届学术交流会

会议地点: 银川

会议语种:中文

页码: 255-260

在线出版日期: 2007-10-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）